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泰勒粗糙度儀DUO信息
更新時(shí)間：2025-05-26 點(diǎn)擊次數(shù)：745次
在測(cè)量效率與精準(zhǔn)度方面，英國(guó)泰勒霍普森粗糙度儀 DUO 表現(xiàn)很好。其多參數(shù)測(cè)量功能堪稱規(guī)范，用戶僅需一鍵操作，便能同步獲取 Ra（輪廓算術(shù)平均偏差）、Rz（輪廓最大高度）、Rp（輪廓最大峰高）、Rv（輪廓最大谷深）和 Rt（輪廓總高度）等核心參數(shù)，能剖析被測(cè)表面的粗糙度特征，為質(zhì)量把控提供詳實(shí)數(shù)據(jù)支撐。
測(cè)量范圍上，DUO 展現(xiàn)出*的兼容性與適應(yīng)性。Ra 量程覆蓋 0.01μm-40μm，Rz、Rp、Rv、Rt 可達(dá) 0.1μm-199μm，搭配 200μm 的傳感器范圍與 5mm 行程，無(wú)論是精密零件的微觀表面檢測(cè)，還是大型工件的宏觀輪廓評(píng)估，都能輕松勝任，滿足多樣化的高精度測(cè)量需求。
談及測(cè)量精度，DUO 憑借 0.01μm 的超高分辨率，將 Ra 精度控制在 0.01μm、Rz 精度達(dá) 0.1μm，測(cè)量誤差僅為讀數(shù)的 5%+0.1μm，重復(fù)性誤差保持在值的 2%+ 噪聲水平。這般嚴(yán)苛的精度標(biāo)準(zhǔn)，確保每一次測(cè)量數(shù)據(jù)都真實(shí)可靠，為生產(chǎn)制造與質(zhì)量檢測(cè)筑牢精確根基。
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